Visió general del producte

 

L'equip de pel·lícula fina d'evaporació assistida de la sèrie IAE-Ion-integra la deposició física de vapor (PVD) amb el bombardeig de feix d'ions-en temps real. En dirigir ions energètics al substrat durant l'evaporació tèrmica o del feix d'electrons-, el sistema transfereix impuls als àtoms de condensació, reestructurant la microestructura de la pel·lícula en creixement.


Aquesta transferència d'energia cinètica elimina els buits columnars, suprimeix l'absorció d'humitat i bloqueja l'índex de refracció contra els canvis d'humitat ambiental. Creada per al funcionament continu de diversos-torns en línies de producció òptiques i de semiconductors, la plataforma gestiona substrats que van des d'òptiques làser d'alta-precisió fins a hòsties de silici.

 
 
Especificacions tècniques

 

Paràmetre

Especificació

Pressió base definitiva

< 5.0 × 10⁻⁵ Pa (achieved within 45 mins via cryogenic/turbomolecular pumping)

Fonts d'evaporació

Pistola multi-butxaca E-de feix (4 × 15 cc a 40 cc) i fonts tèrmiques resistives

Tipus de font d'ions

Font d'ions tipus Gridless End-Hall / Kaufman- (tensió del feix: 50 – 1500 V, corrent iònic: 0,1 – 3 A)

Control del gruix de la pel·lícula

Microbalanç de cristall de quars (QCM) + Sistema de control òptic (OMS), precisió ± 0,1 nm

Fixació del substrat

Dispositiu de rotació planetària, radi de cúpula personalitzat a la geometria del substrat

Calefacció de substrat

Matriu d'escalfadors radiants, fins a 350 graus amb uniformitat PID de ± 2 graus

Arquitectura de control

PLC + PC industrial, execució automatitzada de receptes, registre de dades conforme a SECS/GEM

 

-Procés de deposició assistida d'ions

 

Generació de vapor:

El material s'evapora del gresol e-o el vaixell tèrmic a velocitats de deposició controlades (0,1 – 2,0 nm/s).

01

Transferència d'impuls:

Els ions energètics (Ar⁺, O⁺) bombardegen la superfície del substrat simultàniament amb el flux de vapor que arriba del feix E-o la font tèrmica.

02

Modificació de la microestructura:

L'impacte dels ions millora la mobilitat de la superfície de l'adatom, evitant el creixement del gra columnar i aconseguint una densitat aparent gairebé -(densitat d'empaquetament > 99%).

03

Correcció d'estequiometria:

L'assistència d'ions reactius (O₂) assegura l'oxidació completa dels sub{0}}òxids en pel·lícules d'òxids metàl·lics (per exemple, Ta₂O₅, Nb₂O₅, SiO₂), eliminant les bandes d'absorció en l'espectre UV-NIR.

04

 

Materials cinematogràfics
 
 

Òxids:

SiO₂, Ta₂O₅, TiO₂, Nb₂O₅, HfO₂ (Estabilitat d'índex de refracció alt per a filtres òptics).

 
 
 

Fluorurs:

MgF₂, LaF₃ (Capes d'índex de refracció baix per a recobriments AR de banda ampla).

 
 
 

Metalls:

Al, Ag, Au, Ti (Capes d'adhesió i reflectors metàl·lics).

 

 

Aplicacions

Làser i òptica de precisió:

Filtres passabanda, miralls dicroics i recobriments de protecció làser que requereixen un llindar de dany induït per làser-alt (LIDT) i un desplaçament espectral zero sota estrès tèrmic.

Vidre de coberta LiDAR:

Pel·lícules fines anti-reflectants (AR) i anti-sucia i resistents a la intempèrie a l'exterior.

productcate-550-450
productcate-550-450

Embalatge de semiconductors:

Capes d'encapsulació de-barrera d'humitat i coixinets de contacte metàl·lics dipositats a baixes temperatures del substrat.

Sensors biomèdics:

Recobriments d'interferència òptica biocompatible per a xips microfluídics de diagnòstic.

 

 
 
Personalització

Les cambres i els dissenys interns estan dissenyats per a les petjades de fabricació específiques i els requisits del procés:

01.

Dimensions de la cambra:

Escalable des d'unitats de R+D de R=600 mm fins a sistemes de producció d'alta-capacitat R=1200 mm.

02.

Paquets de bombeig:

Configurable amb bombes turbomoleculars Maglev, criobombes i línies de suport de ventiladors Roots en funció dels requisits de càrrega de gas.

03.

Integració de fonts:

Configuracions de font d'ions dual-o configuracions de co-deposició per a pel·lícules d'aliatge complexes i de gradient multi-capes.

04.

Nivell d'automatització:

Integració amb sistemes automatitzats de transferència de substrats de sales netes (EFEM / Vacuum cluster tools).

 

Control de qualitat
 

Detecció de fuites:

Totes les cambres de buit són provades de fuites d'heli-utilitzant un espectròmetre de masses (taxa de fuites < 1,0 × 10⁻¹⁰ Pa·m³/s).

Traçabilitat dels components:

Vàlvules de buit, controladors de flux massiu (MFC) i fonts d'alimentació procedents de marques industrials qualificades de nivell 1 (MKS, Inficon, IVA).

Proves d'acceptació de fàbrica (FAT):

Feu proves-que verifiquen la pressió base, la corba de bombeig, l'estabilitat de la font i la resistència contínua de la cambra buida de 24-hores abans de l'enviament.

Validació de metrologia:

La mostra es va verificar mitjançant espectrofotòmetre (transmittància/reflectància) i microscòpia de força atòmica (rugositat superficial Ra < 0,5 nm).

 

Instal·lació i suport tècnic
 
 
 

Guia de preparació del lloc:

Requisits integrals de serveis subministrats abans del lliurament (flux/pressió d'aigua de refrigeració, aire comprimit de sala blanca, distribució d'energia, ventilació d'escapament).

 
 

Posada en marxa clau en mà:

Els enginyers de servei de camp s'ocupen del muntatge mecànic, de la cocció al buit-, de la calibració del feix d'ions i de la signatura de la recepta del procés inicial-al lloc-.

 
 

Formació d'operadors:

Formació pràctica-estructurada que inclou el manteniment rutinari, la seguretat de l'aspirador, el funcionament del programari i la resolució de problemes.

 
 

Suport al cicle de vida:

Interfície de diagnòstic remot per a la resolució ràpida de problemes del programari; estoc regional d'articles de desgast crític (filaments, gresols, escuts) enviat en 48 hores.

 

 

 

PMF

 

 

P: Com evita l'assistència iònica el desplaçament espectral dels filtres òptics?

R: L'evaporació tèrmica convencional deixa buits microscòpics a la pel·lícula, que absorbeixen la humitat ambiental, canviant el gruix físic i l'índex de refracció. El bombardeig iònic augmenta la densitat de l'empaquetament de la pel·lícula per sobre del 99%, segellant la microestructura contra la penetració d'humitat i bloquejant els paràmetres òptics estables en entorns d'humitat variable.

P: Quin és l'interval de manteniment típic de la xarxa de font d'ions?

R: Depenent dels gasos de procés (Ar vs. O₂ reactiu) i la potència operativa, es requereix manteniment de la xarxa cada 150 a 300 hores de processament. Els dissenys Gridless End-Hall amplien les finestres operatives de manera significativa eliminant les reixetes físiques subjectes al desgast per pols.

P: Aquest equip es pot integrar amb l'automatització de fàbrica existent?

A: Sí. El programari de control admet els protocols SECS/GEM i OPC UA, permetent la connexió directa amb els sistemes d'execució de fabricació (MES) per a la gestió de receptes i el seguiment de lots.

Som coneguts-com un dels principals fabricants i proveïdors d'equips de pel·lícula fina d'evaporació assistida per ions-a la Xina. Si voleu comprar equips personalitzats de pel·lícula fina d'evaporació assistida per ions-fabricats a la Xina, us convidem a obtenir la llista de preus de la nostra fàbrica. Per consultar preus, poseu-vos en contacte amb nosaltres.

Enviar la consulta
Contacta amb nosaltressi tens alguna pregunta

Pots contactar amb nosaltres per telèfon, correu electrònic o el formulari en línia que trobaràs a continuació. El nostre especialista es posarà en contacte amb vostè en breu.

Contacta ara!